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低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法

作者:Admin 发布时间:2020年11月11日14:43:30 794次浏览
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低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法

行业领域:信息传输、软件和信息技术服务业 —— 软件和信息技术服务业

专利类型: 发明专利

专利信息: 专利技术

专利号: 201310165212.0

成熟度: 已有样品

技术合作方式: 其他

技术推广方式: 正在技术推广

技术交易价格: 面议

联系人:唐轶峻

联系方式:0571-88871564

技术成果发布数:1969

邮箱:kjc3@zjut.edu.cn

成果内容简介

低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法,包括如下步骤:、

1.获取图像光谱;

2.对步骤1获得的图像光谱进行一维光谱抽取;

3.对空间碎片一维光谱进行波长标定;

4.对空间碎片一维光谱进行流量标定,得到空间碎片超低色散特征。

   

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