行业领域：制造业 —— 专用设备制造业

专利信息： 非专利技术

成熟度： 可以量产

技术合作方式： 其他

技术推广方式： 正在技术推广

技术交易价格： 面议

联系人：杜颖楚

联系方式：18072238605

技术成果发布数：1346

邮箱：249870833@qq.com

应用行业领域

装备制造-自动化    

成果内容简介

半导体器件测量系统(Semiconductor Devices Measurement System)，简称 OSDMeas-1，已获得了甘肃省计量研究院颁发的“仪器校验证书”。该测量系统是一套可用于双端和三端有机电子器件的自动测量系统，主要应用于有机场效应晶体管(OFET)和有机二极管的测量；同时可适用于小功率无机半导体器件的测量。该测量系统的优势在 OFET 器件的测量中可以很好的体现，由于 OFET 器件的阻抗比较高，在测量中需要有弱电流的测量能力(nA 级或更小)和较高电压的输出能力(100V)，该系统完全满足上述需求。OSDMeas-1 测量系统由计算机、数据采集卡、电压源和电流放大器等功能模块构成，实现了电压-电流特性的自动扫描测量。测量方式采用最简单的电压源方式，也就是施加电压，测量电流的方式。计算机与数据采集卡通过 PCI（或者 USB）接口连接，实现了软件系统对硬件的控制。测量数据和曲线实时显示，直观明了。该系列测量系统产品化后，与其他同类产品相比而言，将具有很高的性能价格比。有望在国内从事于有机半导体器件的科研单位及企业推广应用。